標題：材料與被測零件或部件的基材的特征分析顯微鏡
信息分類:站內新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2016-3-21 12:23:44
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正文:
材料與被測零件或部件的基材的特征分析顯微鏡
校準試樣精度的檢驗
零位校準用試樣(無涂層的基材)；
材料應與被測零件或部件的基材的特性相同樣中獲得的儀
器響應與從工件基材中獲得的儀器響應進行比較，從而確定兩
者的特性是否一致。材料的特性也可用冶金的和物理的方法來
檢驗。校準箔片校準箔片通過檢驗，以保證箔片具有與被測材
料相同的特性和儀器響應。切實可行的檢驗箔片厚度的方法是
用顯微鏡來測餐。
有涂層的校準試樣
試樣的基材和涂層均需檢驗，以確保它們具有與被測材料
有相同的特性和儀器響應。涂層的厚度，則可用下列的方法之
一作適當?shù)臋z驗。
(1) 用物理方法測量。實用的方法是，將試樣的部分涂層留下
，而其余的部位則作為無涂層的基材，然后用顯微鏡或千分表
分別測量有涂層和無涂層部分的尺寸，求出差值，從而得到涂
層的厚度。為了獲得涂層厚度的平均值，建議在每個部位作多
次測量。應該注意，如果校準試樣的尺寸是均勻一致的，則表
明檢驗方法是有效的。
(2) 校準試樣有機金屬物的測定，可用部分截面解剖法。如果
無法實施，則可磨光此試樣的邊緣(在后面的情況中，測得的厚
度不能作為整個試樣的代表值)。涂層厚度由具有刻度分度鏡的
光學測量儀器確定。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科