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標(biāo)題：微電子器件不同用途覆層材料厚度檢測顯微鏡

信息分類:站內(nèi)新聞　　 作者:yiyi發(fā)布　　 時(shí)間:2016-5-7 1:55:03 將本頁加入收藏

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正文:

微電子器件不同用途覆層材料厚度檢測顯微鏡

不同用途的覆層需要不同物理化學(xué)性能的覆層材料，而且覆

層的鍍覆工藝也可能不同。由于覆層鍍覆工藝不同，將會產(chǎn)生與

工藝相關(guān)的技術(shù)特性，如在化學(xué)熱處理滲層中，滲層與基體之間

產(chǎn)生一層過渡層，因而對正確評價(jià)覆層厚度將需要正確解決過渡

層的測量問題。有些覆層制品要達(dá)到某種特定性能指標(biāo)，有時(shí)采

用單一覆層材料或單一覆層是不夠的，因而需要采用合金鍍層或

多層鍍層。常見的多層鍍層有鋼基體上鍍銅、鍍鎳、再鍍鉻的多

層鍍層，以及鋼基體上半光亮鍍鎳、光亮鍍鎳、再鍍微孔鎳的多

層鎳鍍層．多層鍍層的質(zhì)量指標(biāo)，不僅規(guī)定多層鍍層的總厚度，

而且也規(guī)定各分層鍍層的厚度。因此，在多層鍍層厚度測量中，

要懈決各分層鍍層厚度的測量，無疑它和單層鍍層厚度測量相比

較，顯然是更復(fù)雜而艱巨的任務(wù)。

    通常覆層厚度為幾微米至幾毫米，但在微電子器件等方面，

覆層厚度可薄至幾納米到幾十納米，而熱處理淬硬層等，有的厚

度可高達(dá)100mm以上。對于這么寬的覆層厚度范圍，要針對各

種覆層與基體的組合去解決覆層厚度的測量，很顯然，是需要采

．取各種方法的。

覆層厚度的測量方法及其選擇

    覆層厚度的測量，特別是覆層厚度的無損測量，通常是依據(jù)

各種物理方法制作的傳感器，將覆層厚度這一參量變?yōu)殡娦盘枺?/div>

以實(shí)現(xiàn)覆層厚度的測量。

    對于傳感器及其實(shí)現(xiàn)測量的機(jī)械結(jié)構(gòu)，在無損探傷中，通常

稱作探頭，在醫(yī)學(xué)檢查和物理量的測試中，較多地稱作探針，而

在覆層厚度測量中，則稱作測頭。   

    根據(jù)測頭和被測工件表面是否接觸，可將覆層厚度測量分為

接觸測量和不接觸測量。

    接觸測量是測頭和被測工件表面直接接觸的測量，并有機(jī)械

作用力存在，通常制成品和半成品的覆層厚度測量大多采用接觸

測量。

    不接觸測量是測頭和被測工件表面不發(fā)生接觸的測量，而且

沒有機(jī)械作用力存在，適合于生產(chǎn)過程中的覆層厚度監(jiān)控，如啟

射線法等就多用于生產(chǎn)中的不接觸測量。

    從對被測覆層是否進(jìn)行破壞看，覆層厚度測量可分為有損測

量和無損測量，或稱破壞法測量和非破壞法測量。

    有損測量分陽極溶解庫侖法、光學(xué)法(包括覆層斷面顯微鏡

測量、干涉法光學(xué)裝置測量、偏振光法光學(xué)裝置測量、掃描電鏡

測量)、化學(xué)溶解法(包括點(diǎn)滴法、液流法、稱重法)、輪廓儀

法和機(jī)械法等。

出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科

特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/8366.html 　
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