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非接觸式深度量測顯微鏡系統(tǒng)   訂購電話：010-64034191   咨詢電話：84021761


X、Y、Z 三軸精密量測，Z軸量測精度可達±1μm， 光學非接觸式，可避免破壞待測物，廣泛應用于IC封裝、機械產(chǎn)業(yè)及學術研究機構等需要高精度三次元量測之應用， 可依客戶需求，搭配量測軟體及其他配件。
 
高精確非接觸式深度量測，在觀測量測點的表面，以非常簡單的方式操作，降低人為誤差。
Hisomet 是非接觸式深度量測顯微鏡系統(tǒng)。
根據(jù)光學的焦點探知系統(tǒng)而設計。
藉由簡單的重疊對焦符號採取精確的對焦指示符號，可測量高度、深度、距離…等，和觀察量測點的表面。
因為有非接觸式系統(tǒng)，因此不需擔心物質的損壞如樣品變形、刮傷、刻痕， Hisomet 是最理想的在量測電子零件如 ICs 或高精度加工零件。

特性:

‧工具顯微鏡Z 軸量測超高精度±1μm
‧顯微鏡的Z 軸光學式輔助對焦符號，大幅降低人眼誤差。
‧顯微鏡的兩種不同的對焦符號，可任意切換。