標(biāo)題：鍛件中的疏松在橫向低倍試片晶粒檢測(cè)顯微鏡
信息分類(lèi):站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2017-4-30 0:15:31
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正文:
鍛件中的疏松在橫向低倍試片晶粒檢測(cè)顯微鏡
鍛件中的疏松在橫向低倍試片上是由許多深灰色的小點(diǎn)和針孑
L組成的。這是鋼材不致
密不均勻的一種象征。疏松分為分布整個(gè)斷面的一般疏松以
及分布中心部附近的中心疏松。疏松在高靈敏度探傷時(shí)可以發(fā)現(xiàn)。
偏析分為錠型偏析和點(diǎn)狀偏析兩類(lèi)，錠型偏析在橫向低倍試片
上表現(xiàn)為沿錠型形狀分布的深色區(qū)域，一般常為方框形，因此也稱(chēng)
方框形偏析。點(diǎn)狀偏析多呈暗灰色的點(diǎn)，有時(shí)這些點(diǎn)較基體金屬凹
陷，它又分為均勻分布的一般點(diǎn)狀偏析和只分布在邊緣的邊緣點(diǎn)狀
偏析兩類(lèi)。
晶粒粗大多發(fā)生在大型鍛件中，由于加熱溫度過(guò)高或保溫時(shí)間
過(guò)長(zhǎng)，奧氏體過(guò)于粗化，從而使轉(zhuǎn)變以后沿晶界析出大塊或長(zhǎng)條鐵
素體和使鐵素體晶粒粗化。有些工件雖然不大，但有過(guò)熱或者過(guò)燒
組織時(shí)也會(huì)產(chǎn)生粗大晶粒。某些鋼在常溫時(shí)具有奧氏體組織，未經(jīng)
變形時(shí)也具有較粗的晶粒組織。
此外，從不同工件出現(xiàn)缺陷類(lèi)型來(lái)講，出現(xiàn)在鑄件中的缺陷有
：縮孔、夾渣、蜂窩狀缺陷、氣孔、砂眼、熱裂紋、冷裂紋、冷隔
、縮松、疏松等。出現(xiàn)在鍛件中的缺陷有：白點(diǎn)、夾渣、裂紋(內(nèi)
裂紋、軸心晶間裂紋、鍛造裂紋)縮孔殘余、夾層、疏松(一般疏松
、中心疏松)、偏析(錠型偏析、點(diǎn)狀偏析)等。焊縫中出現(xiàn)的缺陷
有：氣孔、夾渣、裂紋、未焊透等。
概括起來(lái)，各種缺陷的幾何形態(tài)與分布規(guī)律以及它們所經(jīng)過(guò)的
熱加工工序?qū)τ诔暡ㄌ絺ㄐ杂泻苤匾囊饬x，應(yīng)作較全面的了
解。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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北京地區(qū)金相顯微鏡專(zhuān)業(yè)的供應(yīng)商
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