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正文:
電子顯微成像的
立體顯微鏡觀測(cè)涂布質(zhì)量表面結(jié)構(gòu)
表面結(jié)構(gòu)
分布狀況圖
獲得分布狀況圖(topographical mapping)的方法很多。最普
遍的是利用某種傳感原理掃描紙張表面。有各種不同類型的傳感器
,包括金剛石觸針、各種光學(xué)傳感器、共焦顯微鏡和原子力顯微鏡
。每種傳感器都有一定的優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)。近來(lái)已將各種不同類型的分
布狀況
測(cè)量法用于涂布紙表面(包括光學(xué)干涉儀)。這種技術(shù)不是用
探頭在表面上掃描,而是用可干涉光(coherent light,或譯相干
光)描繪出相當(dāng)大面積的圖像。通過(guò)光波干涉現(xiàn)象,該技術(shù)可繪制
出整個(gè)區(qū)域的分布狀況。其他的技術(shù)還包括以不同視角利用光學(xué)或
電子顯微成像的立體顯微鏡觀測(cè)法(stereoscopy)。
摩擦因數(shù)
表面分布狀況和化學(xué)性質(zhì)可影響紙面的摩擦因數(shù)。分布狀況可
影響
微觀與宏觀摩擦力。黏滑(stick—sIip)現(xiàn)象的發(fā)生可與從勻
度(mm~cm)到涂布顏料結(jié)構(gòu)(<μm)的規(guī)格上的變化特征有關(guān)。測(cè)量
摩擦的傳統(tǒng)宏觀技術(shù)包括用于靜態(tài)摩擦的斜面法和用于靜態(tài)和動(dòng)態(tài)
的水平面法。新型原子力顯微鏡技術(shù)有可能用以測(cè)定納米范圍的摩
擦作用力。對(duì)大多數(shù)紙張表面來(lái)說(shuō),假設(shè)摩擦的增加與減少可由于
粗糙度的增加與減少而引起,可能是妥當(dāng)?shù)摹5珜?duì)非常光滑的表面
,摩擦可隨著粗糙度的減少而增加,這是因?yàn)榻佑|面積增加了的緣
故。
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北京顯微鏡百科
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