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納米材料結構分析方法和所需要的儀器
Atomic Force Microscopy (AFM):
原子力顯微鏡。利用一個固定在顯微臂上針尖，對樣品表面進行掃描，通過測量針尖在樣品表面滑動或垂直方向移動的作用力的變化，獲得樣品表面微區(qū)的三維結構、化學成份和物理性能的分析技術。

Auger Electron Spectroscopy (AES):
螺旋電子光譜、歐杰電子能譜儀。

BET adsorption method:
利用吸附氦氣與BET 法計算出比表面積與奈米微粒密度。根據(jù)壓力和吸附量的關係，用BET方程式計算出粉末表面氣體單分子層的吸附量，進而求得比表面積的方法。

Differential Mobility Analyzer (DMA):
微分電移動度分析儀。(交大環(huán)工所修正)

Electron Energy Loss Spectroscopy (EELS):
電子能量損失光譜儀、電子能量損失能譜儀。

Electron Probe MicroAnalysis (EPMA):
電子探針微量分析、電子探針微分析。

Glow Discharge Mass Spectrometry (GDMS):
光釋放質量光譜儀、光暈光放電質譜儀。

Infrared Absorption Spectroscopy:
紅外吸收光譜法。研究紅外輻射與試樣分子振動和(或)轉動能級相互作用。利用紅外吸收光譜帶的波長位置和吸收強度，來測定樣品組成、分子結構等的分析方法。

Magnetic Force Microscopy (MFM):
磁力顯微鏡。透過測量掃描探針與樣品表面間磁力的變化信號，來觀察樣品表面微區(qū)形貌和磁特性的分析技術。

malvern multisizer:
顆粒表面電位測定儀。(交大環(huán)工所修正)

mercury porosimetry:
壓汞儀法。對水銀加壓力，滲入多孔材料中，根據(jù)水銀壓入的孔半徑與壓力成反比的關係，求得多孔材料孔徑分佈的方法。

mossbauer spectrometry:
穆斯堡爾譜法。利用物質中特定原子核對于γ 射線共振吸收，測量原子核與其核外環(huán)境(核外電子、近鄰電子及晶體結構等)之間的相互作用，從而得到核外電子、近鄰原子及晶體結構等信息的分析方法。

Photoluminescence (PL):
螢光。

Photon Correlation Spectroscopy (PCS):
光子相關譜法、光子關聯光譜法。用一單色相干的激光光束照射分散于液體中的顆粒，在某一角度(通常為90°)連續(xù)紀錄被顆粒散射的光，并傳送到相關器，應用散射光強度自相關函數計算出顆粒的平均粒度和粒度分佈寬度的分析方法。

Raman spectrometry:
拉曼光譜法。以單色光照射試樣，有ㄧ小部分入射光與樣品分子碰撞后，產(chǎn)生非彈性散射，由于此譜線的產(chǎn)生往往涉及分子的振動能級的變化。該方法已被普遍應用于測定試樣的組成、分子結構等。

Scanning Electron Microscope (SEM):
掃描電子顯微鏡。為檢測微粒大小、形狀、架構與膠凝作用技術之ㄧ。利用掃描入射電子束與樣品表面相互作用所產(chǎn)生的各種信號(如二次電子、X射線譜等)，採用不同的信號檢測器來觀察樣品表面形貌和化學組成的分析技術。

Scanning Mobility Particle Sizer (SMPS):
掃描式電移動度微粒分析儀、掃描漂移動微粒分析儀、掃描移動微粒分析。可以準確量測微粒之粒徑（0.005~1.0 μm）分佈及數目濃度。

Scanning Near-Field Optical Microscopy (SNOM):
掃描近場光學顯微鏡。利用孔欄限制的光纖掃描探針，在距離樣品表面一個波長以內探測樣品表面的光學特性變化，將光信號的變化轉換成圖像，獲得樣品表面結構及光學特性的分析技術。

Scanning Probe Microscopy (SPM):
掃描探針顯微鏡。利用測量掃描探針與樣品表面相互作用所產(chǎn)生的信號，在奈米級或原子級的水平上研究物質表面的原子和分子的幾何結構及相關物理、化學性質的分析技術。

Scanning Thermal Microscopy (STHM):
掃描熱顯微鏡。透過控制、調節(jié)表面蓋有鎳層的鎢絲探針針尖與樣品間距，進行恆溫掃描，觀察樣品表面微區(qū)形貌的分析技術。

Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM):
掃描穿透電子顯微鏡。

Scanning Tunneling Microscopy (STM):
掃描隧道顯微鏡、掃描穿隧顯微鏡。利用曲率半徑為原子尺度的金屬針尖，在導體或半導體樣品表面掃描，在針尖與樣品間加一定電壓，利用「量子隧道效應」來獲得反映樣品表面微區(qū)形貌及電子態(tài)圖像的分析技術。所謂隧道效應係指粒子可穿過比本身總能量高的能量障礙。

scanning-probe instrument:
掃描探針儀器。

Small Angle X-Ray Scattering (SAXS):
X射線小角散射法、小角度X光散射法、小角度X-射線散射法。利用X射線在倒易點降原點(000 結點)附近的相關散射現(xiàn)象，來測定長週期結構和奈米粉末粒度分佈的分析方法。

Transmission Electron Microscopy (TEM):
穿透式電子顯微鏡。為檢測微粒大小、形狀、架構與膠凝作用技術之ㄧ；以透射電子為成像信號，透過電子光學系統(tǒng)的放大成像觀察樣品的微觀組織和形貌的分析技術。

transmission electron microscopy-image analysis:
透射電鏡-圖像分析法、穿透電子顯微鏡-對像分析。利用電子顯微鏡成像結合圖像分析系統(tǒng)，測量奈米粉末的形貌和粒度分佈的分析方法。

Ultrafine Condensation Particle Counter (UCPC):
超細凝結微粒計數器。(交大環(huán)工所修正)

X-Ray Absorption Near Edge Spectroscopy (XANES):
X光吸收邊緣結構光譜。

X-Ray Diffractometry Line Broadening Method (XRD-LB):
X射線衍射線寬化法、X射線繞射線置化法。根據(jù)晶粒奈米化和/或晶格畸變所引起的衍射線寬化現(xiàn)象來測定晶粒尺寸和晶格畸變的分析方法。

X-Ray Diffractometry (XRD):
X射線衍射法、X光繞射法、X射線繞射法。根據(jù)物質的X-射線衍射圖譜特徵，對其物相和結構等進行測定的分析方法。

X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS):
X光光電子能譜儀。

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