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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2011-11-26 11:56:50
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正文:
NIR紅外線顯微鏡的應(yīng)用
當(dāng)你的樣品是在silicon當(dāng)中,可是你又不想將你的樣品給破壞掉,用一般可見(jiàn)光又看不到你的defect或者是pattern,這時(shí)候,紅外線顯微鏡應(yīng)該就是你最好的選擇了,至于詳細(xì)情形,看看下面幾張圖的介紹應(yīng)該就夠了,若是需要進(jìn)一步討論的話,要先去多準(zhǔn)備資料應(yīng)付了,呵~~~
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