標(biāo)題：掃描探針顯微技術(shù)和優(yōu)缺點(diǎn)？
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2011-12-3 23:26:29
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正文:
掃描探針顯微技術(shù)和優(yōu)缺點(diǎn)？
指具有『掃描機(jī)制與動(dòng)作』及『微細(xì)探針機(jī)制』的顯微技術(shù)
一般常見的代表性儀器包括：掃描穿隧顯微鏡、原子力顯微鏡等
舉凡材料表面的物性量測(cè)，諸如聲、光、力、電、磁，皆可藉由適當(dāng)?shù)臋C(jī)制修改，以利于表
面物性的量測(cè)即可發(fā)展出一種全新、精度達(dá)原子級(jí)的量測(cè)儀器
掃描探針顯微技術(shù)優(yōu)缺點(diǎn)
優(yōu)點(diǎn)：儀器體積小、樣品無須特殊處理，可在任何環(huán)境下進(jìn)行處理等
缺點(diǎn)：掃描速度慢、資料重現(xiàn)率差及缺乏成份分析功能等
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/1453.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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