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標(biāo)題：常見的 SPM 列表!最好的國產(chǎn)顯微鏡廠家！

信息分類:站內(nèi)新聞　　 作者:yiyi發(fā)布　　 時(shí)間:2012-5-9 1:19:08 將本頁加入收藏

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正文:

常見的 SPM 列表!最好的國產(chǎn)顯微鏡廠家！

中文名稱                                                         英文名稱                                          量測(cè)值     掃描結(jié)果的物理意義

掃描穿隧顯微鏡(STM)  Scanning Tunnleing Microscopy                      穿隧電流     3D 形貌、電性結(jié)構(gòu)與成分判定

原子力顯微鏡(AFM)     Atomic Force Microscopy               原子分子間的作用力如凡德瓦爾力  3D 形貌

摩擦力顯微鏡(LFM)                Lateral Force Microscopy                                   摩擦力                      表面摩擦力或坡度的變化

磁力顯微鏡(MFM)                 Magnetic Force Microscopy                                    磁力                       磁性物質(zhì)的大小與形狀及磁力的大小與極性

電力顯微鏡(EFM)                  Electrostatic Force Microscopy 靜電力 濃度變化所產(chǎn)生的靜電場(chǎng)梯度

近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡(NSOM) Near-field Scanning Optical Microscopy 近場(chǎng)光 表面物質(zhì)對(duì)光的吸收與反射特征

掃描電容顯微鏡(SCM) Scanning Capacitance Microscopy 電容 微分電容大小與濃度分布

掃描溫度顯微鏡(SThM) Scanning Thermal Microscopy 溫度或熱導(dǎo)性 表面溫度與熱導(dǎo)的分布

力調(diào)變顯微鏡(FMM) Force Modulation Microscopy 彈性 表面物質(zhì)的硬度或彈性

相位偵測(cè)顯微鏡(PDM) Phase Detection Microscopy                      彈性力、吸附力、摩擦力的信號(hào)差 表面材質(zhì)特性

化學(xué)力顯微鏡(CFM) Chemical Force Microscopy 吸附力差 表面電化學(xué)特性

掃描霍爾探針顯微鏡(SHPM) Scanning Hall Probe Microscopy 磁力 磁場(chǎng)分布

導(dǎo)電式原子力顯微鏡(C-AFM) Conductive Atomic Force Microscopy 電流 電流量測(cè)與表面材質(zhì)電流分布圖

掃描展阻顯微鏡(SSRM) Scanning Spreading Resistance Microscopy 電流 電流大小、延伸電阻與濃度分布

出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科

特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/2934.html 　
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