標(biāo)題：顯微鏡的分類(lèi)以及使用的范圍？金相介儀器紹
信息分類(lèi):站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2012-11-12 22:34:30
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正文:
明視野顯微鏡需要標(biāo)本需要染色的原因(stained bright-field microscopy)
染色之后加強(qiáng)對(duì)比度(contrast)，并顯出原本看不見(jiàn)的細(xì)部結(jié)構(gòu)，染色劑(stains)的種類(lèi)繁多，
可以吸附結(jié)合的生物細(xì)胞種類(lèi)也不同，故每種細(xì)胞有大都有不同的染劑。
相位差顯微鏡(phase-contrast microscopy)
強(qiáng)調(diào)欲觀察物體對(duì)所照射的光之折射率不同，對(duì)比度隨著折射率增加而增加，
所以顯示出來(lái)的影像具有亮區(qū)(light regions)及暗區(qū)(dark regions)。
螢光顯微鏡(fluorescence microscopy)
可使用天然物質(zhì)或螢光染劑，將他們與特定細(xì)胞物質(zhì)結(jié)合后，再照射光束，
之后會(huì)放出較原波長(zhǎng)為長(zhǎng)的螢光(fluorescence)，即可觀察。
微分干涉顯微鏡(differential interference-contrast microscopy)
使用兩道偏極光束(beams of polarized light)，將兩個(gè)影像結(jié)合后會(huì)有陰影(shadow)在某一個(gè)方向。
掃描式電子顯微鏡(scanning electron microscopy, SEM)
控制電子在欲觀察物體的表面，這些電子會(huì)激發(fā)出其他的電子，而這些釋放出來(lái)的電子可以被偵測(cè)器所偵測(cè)，
形成一種三維影像(3D/three-dimensional images)
穿隧式電子顯微鏡(transmission electron microscopy, TEM)
一束電子束藉由磁鐵(magnets)投射在欲觀察物體上，如果影像顯出顏色較深的地方為吸收電子的地方；
反之，顏色較淺的地方為電子直接穿透較多的地方
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/3612.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專(zhuān)業(yè)的供應(yīng)商
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