標(biāo)題：粉體顆粒結(jié)構(gòu)及晶粒尺寸量測(cè)專業(yè)檢測(cè)金相顯微鏡廠商
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2013-1-10 23:51:42
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正文:
晶粒尺寸量測(cè)專業(yè)檢測(cè)金相顯微鏡廠商
服務(wù)項(xiàng)目：
塊材、薄膜、粉體等微觀組織、結(jié)構(gòu)影像觀察及成份分析。
陰極發(fā)光材料影像分析、光譜量測(cè)。
多晶材料結(jié)晶取向、織構(gòu)及晶粒尺寸量測(cè)。
特別注意事項(xiàng)：
樣品或試片準(zhǔn)備需知：
固態(tài)材料，須乾燥，真空中不具揮發(fā)性，電子束照射不會(huì)分解或揮發(fā)。
試片大小：直徑≦ 2.5 cm，厚度≦1 cm。
掃描電容顯微術(shù)的建立
在電性掃描探針顯微鏡的領(lǐng)域中，以掃描電容顯微鏡的技術(shù)難度最高，
然因掃描電容顯微鏡具備二維載子濃度分析的優(yōu)異能力，載子濃度分布對(duì)雙極性場(chǎng)效電晶體 (BJT) 及MOSFET等
元件的運(yùn)作效能及電性均具有決定性的影響，若能精確得知載子濃度的二維分布輪廓，
對(duì)元件的設(shè)計(jì)與特性分析將有莫大助益。由于掃描電容顯微鏡在功能上符合電子產(chǎn)業(yè)的立即性需求且應(yīng)用層面廣泛，
故早期在電性掃描探針顯微鏡技術(shù)的發(fā)展
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/3838.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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