標(biāo)題：偏光顯微鏡-沉積物薄片巖樣樣本拋光磨平厚度約0.03mm
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2013-3-7 16:50:58
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正文:
偏光顯微鏡-沉積物薄片巖樣樣本拋光磨平厚度約0.03mm
沉積物薄片：
(1) 采集而來的沉積物可依研究目的不同而做一些前處理，例如：過篩、去碳酸鹽類的生物碎屑等，以降低分析上干擾。
(2) 處理完成后，把沉積物樣本放置于一容器中，并倒入環(huán)氧基樹脂，待樹脂完全固結(jié)后，將固結(jié)的沉積物樣本以切割機(jī)將其裁切至符合玻片的大小。
(3) 把切好的標(biāo)本選擇一較平整的面，以 #600 ～ #1000 的碳化矽粉末確實(shí)將此平面拋光磨平。
(4) 巖樣處理完成后，將經(jīng)過拋光磨平后的平面以環(huán)氧基樹脂黏附于玻片上，并將其固定、靜置。
(5) 待膠固化后，再以不同粗細(xì)的磨片機(jī)粗磨及細(xì)磨樣本，使其標(biāo)本的厚度約至 0.03 mm 即完成。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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