標(biāo)題：材料分析圖像三目偏光顯微鏡-微熱加工常識(shí)
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2013-9-24 22:41:08
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正文:
材料分析圖像三目偏光顯微鏡-微熱加工常識(shí)
近場光學(xué)顯微鏡對于現(xiàn)今奈米尺度量測 上有高空間解析的能力，是分析
次波長微結(jié)構(gòu) 不可或缺的工具。
因其空間分辨率受限于光纖 探針的尺寸，為近場光學(xué)顯微鏡中關(guān)鍵部份，
延續(xù)先前研究，本計(jì)畫已達(dá)成探針自制能力， 并且利用自制的探針與外差
式近場光學(xué)干涉儀結(jié)合已具有不錯(cuò)的成效。再者，對于近場正交式的架構(gòu)已
有初步的模擬結(jié)果。對于輻射狀偏極態(tài)入射光在近場光學(xué)用探針模擬也觀察
到了超小聚焦的現(xiàn)象，有助于提升近場光學(xué)顯微鏡之分辨率
掃描熱顯微術(shù)量測材料熱性質(zhì)和微熱加工之影響。在 量測或加工過程中，由
于懸臂探針加熱會(huì) 導(dǎo)致振動(dòng)現(xiàn)象發(fā)生，此振動(dòng)大小和探針與 工件間之交互作
用力有關(guān)；此外，由熱探 針針尖傳至工件表面之熱通量亦會(huì)因振動(dòng)而改變
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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