標題：結合一般光學金相顯微鏡、加熱器、觀察試片微觀結構
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2013-9-25 17:21:01
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正文:
將開發(fā)一套嶄新且又便宜、操作簡易的量測模組，此模組結合一般光學顯微鏡、加熱器、
試片治具、微測試結構、電源供應器及影像分析系統(tǒng)(含CCD 及影像處理軟體)。
即可進行薄厚膜材料 之殘留應力、熱膨脹系數(shù)、楊氏系數(shù)及熱傳導系數(shù)的即時量測，并
且也可用來進行薄厚膜材料在熱 處理(退火)過程中殘留應力的變化分析。
同一薄厚膜材料的不同性質(zhì)可藉由相同的測試結構獨立量 測而得。
試片治具、微測試結構、電源供應器及影像分析系統(tǒng)(含CCD 及影像處理軟體)。
即可進行薄厚膜材料 之殘留應力、熱膨脹系數(shù)、楊氏系數(shù)及熱傳導系數(shù)的即時量測，并
且也可用來進行薄厚膜材料在熱 處理(退火)過程中殘留應力的變化分析。
同一薄厚膜材料的不同性質(zhì)可藉由相同的測試結構獨立量 測而得。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/4719.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應商
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