標(biāo)題：利用金相顯微鏡測試結(jié)構(gòu)乃利用簡單的面型加工犧牲層法
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2013-9-25 17:23:09
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測試結(jié)構(gòu)乃利用簡單的面型加工犧牲層法制作，可同時(shí)與元件成形在同一基板
上，監(jiān)測薄厚膜 材料之性質(zhì)，而且僅占基板空間上非常小的區(qū)域。主要是構(gòu)思
出整個(gè)量測模組之架構(gòu)及操作 方式，針對(duì)加熱器及試片治具進(jìn)行設(shè)計(jì)、分析與
制作，完成整個(gè)量測模組的組合安裝，之后設(shè)計(jì)及 制作測試結(jié)構(gòu)，并進(jìn)而進(jìn)行
薄厚膜材料性質(zhì)之實(shí)驗(yàn)量測
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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