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正文:
偏光顯微鏡是晶體光學(xué)方法的基本研究工具,它最初的出現(xiàn)只是用作巖相學(xué)上鑒定巖
石薄片,但近年來在化學(xué)、陶瓷技術(shù)、
金相學(xué),以及醫(yī)藥等各個(gè)領(lǐng)域,已日益顯示出
偏光顯微鏡的重要用途。
由于應(yīng)用領(lǐng)域的廣泛擴(kuò)大,偏光顯微鏡在構(gòu)造上已經(jīng)歷了許多修改,但基本原理仍與
最早的巖石顯微鏡無大差異,
巖相學(xué)工作者通常所使用的偏光顯微鏡。
偏光顯微鏡的優(yōu)點(diǎn)是它不僅能完成一般顯微鏡的放大作用,而且可以測定普通顯微鏡
所不能測定的其它光學(xué)性質(zhì)和特征。
偏光顯微鏡區(qū)別于一般顯微鏡的基本點(diǎn)在于它有兩個(gè)偏光鏡,一個(gè)位于載物臺(tái)下而,
稱下偏光鏡(Polarizer),又稱起偏振器,另一個(gè)位千物鏡上方,稱上偏光鏡或分析鏡
(Anialyzer )又稱檢偏振器。此外,偏光顯微鏡的物臺(tái)均為圓形,卜有度盤,可以旋轉(zhuǎn),
并可以計(jì)量轉(zhuǎn)角。
出自http://www.bjsgyq.com/
北京顯微鏡百科
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