標題：礦物中極細微的顯微構(gòu)造分析用金相顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2014-5-10 14:19:59
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正文:
礦物中極細微的顯微構(gòu)造分析用金相顯微鏡
礦物和巖石中的精細結(jié)構(gòu)是一個概括性名詞，它通常包含三種類型
：①粒間型和位內(nèi)型微裂隙，曾對這兩類裂隙作過描述；②礦物的變形
結(jié)構(gòu)，如微頁理構(gòu)造等，可用光學(xué)和掃描電鏡來進行研究；③礦物中極
細微的顯微構(gòu)造或亞構(gòu)造，如晶疇等，只能用透射電鏡或掃描透射電鏡
來觀察。這三類精細結(jié)構(gòu)是按其規(guī)模大小和研究技術(shù)來加以區(qū)分的。一
般說來，光學(xué)顯微鏡和掃描電鏡的觀察視域范圍廣，因而可以選出一些
幾微米的亞構(gòu)造重點，進一步作透射電鏡或掃描透射電鏡的研究。
礦物中有兩類精細結(jié)構(gòu)能夠指示礦物形成的地質(zhì)環(huán)境，或者指明其
產(chǎn)生的地質(zhì)過程。
這兩種需要進行鑒別和解釋的類型是：①造巖礦物中能指示壓力、
‘溫度和濃度等形成條件和冷卻歷史的顯微構(gòu)造，如Al-Si 有序化，出
溶，相轉(zhuǎn)變等微細構(gòu)造；②不同應(yīng)變速率范圍下由變形作用而產(chǎn)生的礦
物內(nèi)部精細結(jié)構(gòu)。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/5595.html
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