標(biāo)題：光學(xué)顯微鏡能觀察次微米大小礦物么-礦物鑒定顯微鏡
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2014-5-10 14:20:20
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正文:
光學(xué)顯微鏡能觀察次微米大小礦物么-礦物鑒定顯微鏡
用透射電鏡或掃描透射電鏡來研究礦物時(shí)，事前必須有明確的
目的，這是因?yàn)?
①樣品制作比較復(fù)雜，除需要技巧外，還有其他因素的影響。
不同的礦物在減薄過程中被離子沖蝕的難易程度不一樣，如果
樣品中含有多種不同礦物，問題就會(huì)很嚴(yán)重;
②最理想的情況是，希望獲得的情報(bào)很特殊，特別適宜用透射
電鏡或掃描透射電鏡來研究，且用其它方法，就不能得到準(zhǔn)確無誤
的結(jié)果;
③必需事先用光學(xué)方法對(duì)選定作透射電鏡的區(qū)域進(jìn)行認(rèn)真的研
究。
除了在第一節(jié)中指出的兩種主要精細(xì)結(jié)構(gòu)類型，需用透射電鏡
或掃描透射電鏡作為主要研究手段外，我們還列出了一些同樣適宜
于用透射電鏡或掃描透射電鏡來研究的對(duì)象:
①小于10 pm 的包裹體或高壓多形產(chǎn)物的鑒定，這樣小的樣品
是很難從標(biāo)本上取出來作X 射線衍射分析的;
②用光學(xué)方法也不能觀察的次微米大小礦物. 的鑒定，如煙煤
所含微鏡煤里次微米大小礦物的鑒定等;
③在研究晶體結(jié)構(gòu)時(shí)，取得與X 射線衍射資料相對(duì)比的電子衍
射數(shù)據(jù)。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/5596.html
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