標(biāo)題：微小長度及微小位移測量稱為比較測量-測量顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2014-8-24 23:02:01
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正文:
在微小尺寸和微小位移的測量中，又有兩種情況:①測盈
的絕對值是表面各段微小尺寸差;②用比較法測量被測件與
標(biāo)準(zhǔn)件之差。不論是測量微小尺寸的絕對值，還是比較測量微
小長度差，量儀檢測微小長度的機(jī)能都是相同的。通常把這
種測量儀稱為比較測量儀。
在大尺寸和大位移測量中，是用標(biāo)準(zhǔn)尺等直接測量被測
件，即由標(biāo)準(zhǔn)尺等指示出測量值。通常把這種測盤儀稱為指
示測量儀。
因此，把微小長度及微小位移的測量統(tǒng)稱為比較測量，把
大尺寸、大位移的側(cè)量統(tǒng)稱為指示測量，又稱絕對測量。
光學(xué)主動測量即光電轉(zhuǎn)換法。主要是通過光電轉(zhuǎn)換把測
得的光量轉(zhuǎn)換成電量。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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