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正文:
在金相檢驗中經(jīng)常遇到氧化層、滲層、表面熱處理層、鍍
層及涂層等表層相分析問題。采用定性分析進行表層的物相
鑒定就可以較容易地解決這些問題。
以物體的表導(dǎo)進行X射線結(jié)構(gòu)分析,雖然也是采用衍射儀法
的德拜粉末照相法,但對樣品的被檢驗部位的處理卻要十分
精心,一定要保證被檢驗部位不被損壞,并恰好位于入射X射
線的光束中心。
有一些衍射儀上還配有可以進行化學(xué)成份分析的X射線
熒光分析器,它是利用當(dāng)有足夠能量的X射線照到樣品上時,樣品
上的物質(zhì)會受到激發(fā)面而產(chǎn)生熒光X射線(二次特征X射線)
,所以可以根據(jù)測得的熒光X射線的波長和強度進行物質(zhì)組成
元素定性和定量化學(xué)分析。
圖象分析儀的局限性
1.第二相與基體灰并相近時,定量分析工作要進行預(yù)處理
,這種處理會增加工作量和給定量工作帶來誤差。
2.主要用于二相合金,對多相合金各相的定量較為麻煩,
有時無法進行。
3.目前圖象分析儀主要使用光學(xué)
顯微鏡,放大倍數(shù)和分辨
率受到限制,雖可接連其他裝置,但在實際使用中有困難,
而在采取分析電子金相照片時,又大大增加了工作量。
4.價格昂貴,特別是與它所能進行的工作相比較,因而會
在相當(dāng)時間內(nèi)無法普及傷腦筋。
5.在理論上和實際應(yīng)用中尚存在一定問題,因而限制了應(yīng)
用范圍。
出自http://www.bjsgyq.com/
北京顯微鏡百科
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