標(biāo)題：用光學(xué)顯微鏡難以分辨出的但仍比分子尺寸大得多
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作者:yiyi發(fā)布
時間:2014-12-27 21:19:13
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正文:
用光學(xué)顯微鏡難以分辨出的但仍比分子尺寸大得多
研究表面不平度的一種標(biāo)淮方法是把表面垂直剖開，并
金相顯微鏡下觀看它的橫截剖面。對不平度小的表面就必需使
用高的放大率，這樣一來就大大地限制了視野的面積。同時，
能看到的最小的凹凸處也受到顯微鏡的分辨率的限制。除非
表面凹凸沿一個方向沿伸(這就是指，例如由于研磨或磨粒
磨損所引起的表面刮痕和由于滑動而引起的表面損壞)，否則
所有這些限制因素,在相當(dāng)程度內(nèi)可通過對表面進行鈍角切
取剖面的辦法而得到解決。這樣就可得一個表面輪廓的垂直
高度比水平方向大大地放大了的斜截面。
較新型號的電子顯微鏡則配備有可傾斜的載物臺，這樣
能夠照出一對立體的電子顯微照片。用這種方法可以得到很
漂亮的照片，但它在定量上是否能與上述的鑄影法同樣淮確
尚屬疑問。
大多數(shù)經(jīng)仔細拋光后的表面的電子顯微照片，一般都顯
出用光學(xué)顯微鏡難以分辨出的但仍比分子尺寸大得多的表面
凹凸或刮痕。在照片1-2(放大率為50000倍)中可以清楚
地看到，在電拋光后的鋁表面上仍有許多小的凸起與凹陷。
這些小凸起的高度約在100到1000埃范圍。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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