標(biāo)題：光學(xué)顯微鏡的鏡筒或物臺升高或降低調(diào)節(jié)以測量礦物折射率
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2015-1-22 21:58:59
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正文:
折光率比較接近的兩物體（礦物或樹膠）相鄰時，哪一方
的折光率高，哪一方和折光率低，如下可以精確地確定之。
即，只使用下偏光，將物臺下的鎖光圈縮小，使視野變暗，
這時沿著兩物體的境界線有一條亮線，這條亮線叫做貝克線
。將顯微鏡的鏡筒或物臺升高或降低，貝克線越過境界線從
一方移向另一方。這時，有下面這樣的關(guān)系，即物境與物臺
之間的距離增加時，貝克線向折光率高的一方移動。距離減
小時，貝克線向折光率低的一方移動。
貝克線是由境界面發(fā)生的折射，反射。全反射產(chǎn)生的。
境界面與薄片面垂直或近于垂直時，最明顯。（境界面與薄
片面不垂直時，先將焦點對好，然后將物境與物臺之間距離
稍加變化，這時能看到境界線在移動，折光率誰高誰低，一
眼就能看出）。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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