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正文:
在接點(diǎn)面上發(fā)生放電時(shí),通常在接點(diǎn)面上生成不附著的
粉末狀氧化物和咐著的膜狀氧化物。而放電往往發(fā)生在晶界,
粉狀氧化物是由電壓在晶界放電產(chǎn)生的,附著在接點(diǎn)面
上的膜狀氧化物則是由電流在晶面放電產(chǎn)生的。這點(diǎn)很容易
邁過(guò)以下實(shí)驗(yàn)結(jié)果得知。
因?yàn)殒u的晶粒粗大,晶界與晶面的性質(zhì)差別明顯,故對(duì)
確認(rèn)上述現(xiàn)象是有利的。對(duì)鎢來(lái)說(shuō),如果在晶界發(fā)生放電,
就會(huì)以該處為中心沿著晶界產(chǎn)生一些小裂紋。然后放電很容易
沿著這些裂紋發(fā)生。對(duì)于這一現(xiàn)象通過(guò)普通光學(xué)顯微鏡很容易
觀察到。
另外,其他材料例如銀也可用以下實(shí)驗(yàn)得到確認(rèn)。
這是因?yàn)闊Y(jié)
金屬與鑄造金屬的本質(zhì)差別在于前者的多
孔性質(zhì),而其他金屬性質(zhì)卻完全沒(méi)有本質(zhì)上的差別.用熔化
法制造時(shí)品界物質(zhì)的大部分是由固體構(gòu)成的,一而在燒結(jié)金屬
的晶界物質(zhì)中含氣體多.
另外,鑄造金屬的固體晶界物質(zhì)通常是由具有很大結(jié)合
力的化合物組成,但這些化合物與晶粒之間的結(jié)合力一般比
較弱,而這種薄弱性在外觀上主要表現(xiàn)為晶粒脆弱,但這種
晶粒脆弱性采用燒結(jié)法可以去除.
因此熔化法的接點(diǎn)在放電時(shí),晶界物質(zhì)與晶粒之間結(jié)合
薄弱部分比晶界物質(zhì)的破壞大,晶界物質(zhì)破壞所生成的扮末
狀氧化物少。并且在低電壓電路中,由于感應(yīng)在接點(diǎn)間產(chǎn)生
的高電壓比通過(guò)接點(diǎn)問(wèn)的電流對(duì)損耗的影響大
出自http://www.bjsgyq.com/
北京顯微鏡百科
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