標(biāo)題：顯微裂紋需要電子顯微鏡才可以觀察到
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作者:yiyi發(fā)布
時間:2015-2-10 1:41:42
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正文:
顯微裂紋需要電子顯微鏡才可以觀察到
用透射電子顯微術(shù)檢驗后可知，表層的位錯排列與試樣內(nèi)部不
同。應(yīng)力級對表層位錯排列沒有多少影響，表層中位錯密度很高
的區(qū)域被位錯密度很低的區(qū)域所隔開。在高位錯密度區(qū)內(nèi)出現(xiàn)了
持久性滑移。
許多研究人員還研究了試樣承受循
環(huán)載荷時所發(fā)生的機(jī)械性能和金相組織的變化。測址時一般要記
錄應(yīng)變范圍隨給定應(yīng)力范圍的變化(往往根據(jù)產(chǎn)生的滯后回線形
狀的變化來測定)、材料的硬化或軟化、溫度的變化、加強(qiáng)了的
擴(kuò)散特性或X射線衍射圖的變化。即使除了擴(kuò)散和應(yīng)變時效效應(yīng)
外，各種反應(yīng)都是由于整個試樣的循環(huán)硬化或軟化所致
晶體滑移面無關(guān)，在初期，裂紋可能沿著接近理想方向的晶面擴(kuò)
展。這個裂紋可稱為宏觀裂紋;其生長速率要比初始微觀裂紋快
得多，因此它迅速遍及整個金屬。宏觀裂紋的生長特性將在第五
章中進(jìn)行討論;決定微觀裂紋變?yōu)楹暧^裂紋時的尺寸的條件(有
時將前者稱為第I期裂紋，而將后者稱為第I期裂紋將在第
四章中進(jìn)行討論。疲勞斷裂的脆性狀態(tài)是根據(jù)以下這一點得出
的，即在宏觀裂紋生長期，在任何一瞬間(當(dāng)應(yīng)力級低于弓!起全
而屈服的應(yīng)力級時)產(chǎn)生的循環(huán)塑性應(yīng)變都局限于裂紋前緣前面
的材料微小體積上。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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