標題：電子顯微鏡技術(shù)需光欄裝置設(shè)計放進物鏡后焦面
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2015-3-3 0:16:59
將本頁加入收藏
下一篇：固溶機械加工熱加工檢測便攜金相顯微鏡
上一篇：礦物學礦物的晶體是非常小需要顯微鏡才可看到
點擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報價--丨--
---
---
---
正文:
電子顯微鏡技術(shù)需光欄放進物鏡后焦面
研究晶體缺陷最普遍采用的透射電子顯微鏡技術(shù)需
要把一個光欄放進物鏡后焦面。這個光欄選取一束電子并保證只
有這束電子參加形成終端象。選取透射束得到亮場象，反之，選取
衍射束就形成暗場象。這種方法形成的象就是所選電子束強度在
晶體底面各點變化的電子象。如果從試樣的這個區(qū)域到另一區(qū)域，
透射束強度變化明顯，就得到亮場象襯，相應的效應也可在暗場中
出現(xiàn)。晶體局部彎曲是能引起電子束強度變化的一種最明顯的結(jié)
構(gòu)變化，這種變化可以由晶體缺陷、析出物等引起。如果局部彎曲
影響的是位于或接近于布拉格角的晶面，可以預言，局部區(qū)域的強
度會有重大變化。然而，如果彎曲畸變只涉及不滿足布拉格條件的
品面以及彎曲畸變不足以使晶面達到滿足布拉格條件，也不致引
起局部區(qū)域強衍射，可以預料，這時電子象不會有多大變化。根據(jù)
這個定性推理，可以知道，試樣的襯度看來取決于衍射條件，即特
定晶面是否發(fā)生強衍射和它們接近于布拉格條件的程度。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/6663.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應商
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應商