標(biāo)題：顆粒的生長(zhǎng)還使晶體界面顯微熔點(diǎn)儀制造廠商
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2015-3-19 13:07:12
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正文:
顆粒的生長(zhǎng)還使晶體界面顯微熔點(diǎn)儀制造廠商
位錯(cuò)在等級(jí)化應(yīng)變的顆粒上初始呈隨機(jī)分布，遷移
后變成面狀排列關(guān)表現(xiàn)為多邊化顆粒上的亞顆粒界
面。這種界面橫交晶體格架的活動(dòng)滑動(dòng)面。
在絕對(duì)溫度接近熔點(diǎn)溫度一半的較高溫度下，
退火重結(jié)晶開始，這時(shí)，一種由新核長(zhǎng)成的末應(yīng)變
晶體完全取代了冷加工集合體的應(yīng)變晶體，同時(shí)，
釋放了貯藏的應(yīng)變能，應(yīng)變硬化完全回復(fù)。隨著退
火過程在高溫下持續(xù)，重結(jié)晶進(jìn)入了下一叫做顆粒
成長(zhǎng)期的第二階段，此刻，這個(gè)無應(yīng)變的新集合體
中的某些顆粒，將靠損害其它相對(duì)方位不利的顆粒
緩慢生長(zhǎng)，結(jié)果由此而產(chǎn)生了顆粒組構(gòu)的普遍粗化
。而且，顆粒的生長(zhǎng)還使晶體界面上的表面能降至
最小值。
退火結(jié)晶作用改變了原來冷加工集合體的優(yōu)選方
位形式，它可以使集合體向隨機(jī)方位狀態(tài)發(fā)生幾近
完全的去定向；但是，如果初始應(yīng)變的程度很高，
那么，集合體中將會(huì)出現(xiàn)一種規(guī)則而特征的退火組
構(gòu)的優(yōu)選方位型式。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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