標(biāo)題：精密地測量熔融金屬表面粗糙度測量金相顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2015-6-7 0:10:31
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正文:
學(xué)系統(tǒng).根據(jù)光學(xué)反射的幾何條件來考慮預(yù)期的反射圖形時，必
須記住:由于大多數(shù)蝕坑的側(cè)壁的角度的影響，當(dāng)光束從腐蝕坑內(nèi)
反射出來之前，必然已受到附加的反射，
如果試樣的實際表面①與結(jié)晶學(xué)平面稍有偏離，則所得的反射圖象將
是不對稱的.如測得為使圖形恢復(fù)對稱所必須的傾斜度，也就是
直接測定了晶面與實際試樣表面的偏離度.同時，根據(jù)反射光斑
與試樣的相對方位，還可同時唯一地確定平面中的各個晶向.
光學(xué)反射圖形定向法的成功和精度，取決于所用的設(shè)備，以
及能否獲得邊緣明確清晰和圖形完整的腐蝕坑或解理坑
中列出了一些適用的含水腐蝕劑和熔融金屬腐蝕劑.前者比較容
易使用，但其精確度卻比熔融金屬法差一些.反射坑也可用磨蝕
解理的方法，即用研磨或噴砂的辦法來獲得.但是如果解理面與
腐蝕速度慢的顯露面不同的話，則對反射圖形的解釋也將與圖
用來固定晶片或晶體并改變它們相對
于屏幕的方位的機構(gòu)必須堅實牢固，并能精密地測量，否則就只能
進行非常粗糙的定向.
極性的區(qū)別對于金剛石結(jié)構(gòu)型的晶體，其面和
面是等同的，但是對于閃鋅礦結(jié)構(gòu)型的晶體，就不是這樣了，因為
沿著堆垛次序的每一個雙原子層，都是由一層A組分的原子和一
層B組分的原子構(gòu)成的.于是，取決于沿或是方向穿
過晶體，首先遇到的原子層也不同，或是A原子層或是B原子層.
對于纖維鋅礦結(jié)構(gòu)型的晶體，在和方向之間也存在
類似的差別.所以，在上述任何一種情況中，都可預(yù)期在腐蝕行為
和X射線散射等特征上存在著差別.
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/7046.html
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