標(biāo)題：電陶瓷材料制備鑒定珠光體中鐵素體和碳化物
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2015-6-19 19:35:22
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正文:
電陶瓷材料制備鑒定珠光體中鐵素體和碳化物
不同分析手段測得縫果的比較
由于用STM研究合金的組織結(jié)構(gòu)方面的工作尚處于
探索階段，故STM觀察的結(jié)果必須與其它分析測試手段
由此獲得有關(guān)組織結(jié)構(gòu)真實(shí)信息．
影響掃描隧道顯微鏡圖象質(zhì)量的因素很多，其中最重
要的是掃描隧道顯微鏡的掃描范圍和分辨率，這兩個(gè)因素
又是相互矛盾的．掃描范圍太小，可供觀察的視場太窄，無
法與金相顯微鏡和掃描電鏡圖象銜接，也無法看到貝氏體
的全貌；但掃描范圍過大，則分辨率下降，達(dá)不到觀察試樣
表面精細(xì)結(jié)構(gòu)的目的．為此，考慮到現(xiàn)有壓電陶瓷材料制備
的工藝可行性
關(guān)于實(shí)驗(yàn)中所觀測到超亞結(jié)構(gòu)單元的物理解釋，由于
樣品表面經(jīng)過浸蝕，因而可認(rèn)為，這種微起伏實(shí)際上反映了
在亞單元內(nèi)存在的各類微觀缺陷，超亞單元之間的凹處可
能是微觀界面，或其它規(guī)則排列的線或面缺陷，如位錯(cuò)、層
錯(cuò)、孿晶等．對(duì)此還需做更深入的研究．
除貝氏體鐵素體外，用STM首次觀察到有色合金貝
氏體組織中也存在亞單元結(jié)構(gòu)．為測得亞單元的起伏大小
眾所周知，采用適當(dāng)?shù)慕g劑，可顯示珠光體的層片狀
特征，其原理在于浸蝕劑一般優(yōu)先腐蝕兩相界面(此處能量
較高)，但采用一般的金相分析方法，很難鑒定珠光體中鐵
素體和碳化物的腐蝕難易程度．采用傳統(tǒng)的分析方法研究
本文實(shí)驗(yàn)用合金時(shí)，也面臨同樣問題．由于貝氏體鐵素體內(nèi)
部存在大量缺陷，如亞片條間界面、亞單元間界面及超啞單
元間界面等，因而導(dǎo)致鐵素體容易腐蝕．若此時(shí)儀器的分辨
率較低，則很容易得出如下錯(cuò)誤的結(jié)論，即鐵素體的耐蝕性
能劣于奧氏體．
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/7099.html
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