標(biāo)題：印制電路板的外觀及晶元微觀缺陷檢測金相顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2015-7-22 14:24:42
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正文:
印制電路板的外觀檢查
印制電路板是應(yīng)用于所有
電氣產(chǎn)品的重要元件．特別是以計算機用的印制電路板為代表，
最近以來更是向高度集成化發(fā)展，因此即使是微小的傷痕或圖形
缺陷都被看作是個問題．大部分印制電路板的缺陷是由微小的傷
痕組成的．因此通過從正常的圈形中只檢測出微小圖形的方法，
就可以檢測出大部分的缺陷．為了識別出微小的傷痕，采取了一
種方法：它從可能含有傷痕的圖形(輸入網(wǎng)形)中制作成，可看
作是不含傷痕的所謂準(zhǔn)正常圖形，并將它與輸入圖形相比較，則
不相同的部分即被認(rèn)為是傷痕．
用物鏡放大干板圖形．光電元件使用光電傳感器陣列．它
將128個25μm×25μm的光敏單元沿縱向排列著，是測量一條線上
光強分布的光電轉(zhuǎn)換半導(dǎo)體元件．玻璃干板沿X方向往復(fù)運動，
燈泡、照明聚光鏡、物鏡、光電元件陣列成為一體沿y方向以一
定的間距間斷地送進(jìn)．通過這種方法可檢測出整個干板圖案．為
了檢查被測圖形，采用下列的檢查法。
(1)測定圖形的寬度、長度以及中心線的偏移量．
(2)提取lOμm以上的微小傷痕．
(3)圖形全面缺陷的檢查．
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/7228.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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