標(biāo)題：被測表面和測量工具測量面的粗糙度或波紋度分析顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2015-6-25 17:21:27
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正文:
在長度測量中．被測表面和測量工具測量面的粗糙度或
波紋度，會影響到測量結(jié)果。特別是在精密測量中，由于上
述原因引起的測盈誤差不可忽視，
定。測得的尺寸不穩(wěn)定的原因，一是塊規(guī)上微小波峰在測頭
測力的作用下產(chǎn)生彈性或塑性變形；另一原因是測頭在塊規(guī)
上的某處落在波峰上，在另一處落入波谷內(nèi)。測頭落在波峰
上
測得的值大；落入波谷內(nèi)，測得的值�。植诙葘y量
的影響規(guī)律是：
1．儀器測量面的粗糙度越低，則測量誤差越大；
2．工件被測面的粗糙度越低，則測量誤差越大；工件的材
料越軟，在粗糙度不高的情況下，測量誤差越大；
3．在粗糙度低時．測量力越大。則測量誤差越大：測頭
越小，測量誤差越大。
表面粗糙的工件不能用精密儀器去測量，這不僅是為防
止儀器被劃傷，而且由于表面粗糙弓l起的測量誤差可能超過
測量儀器的精度，失去精密測量的意義。尺寸精度高的零件，
其表面粗糙度也相應(yīng)的高。
為減少測量誤差和防止儀器測頭過早磨損，量具量儀測
頭測量面的粗糙度都比較高。測量面的粗糙度是量具量儀制
造、修理和檢定中的重要指標(biāo)之一。測量面的平面度或兩表
面的平行度，往往用平晶以光波干涉法進行檢定，當(dāng)粗糙度
達不到要求時，不僅平晶被劃傷，而且測量面和平晶之間形
不成光波千涉條紋，以至無法檢定。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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