標(biāo)題：光學(xué)的方法測(cè)量長度-光學(xué)測(cè)量儀器制造廠商
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2015-6-30 1:24:57
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正文:
用光學(xué)的方法測(cè)量長度可概括地分為下列兩類：
(1)采用光波干涉法或圖象放大法可以非常準(zhǔn)確地確定微小尺寸和位移，
和(2)采用帶附件的準(zhǔn)直望遠(yuǎn)鏡和投影儀測(cè)量較大的尺寸。雖
然這是一種概略的分類，但建議大約以3英寸或1米作為分界
線，然而實(shí)際使用時(shí)，在許多情況下，無法截然分開而會(huì)有重
疊。
單色光
光干涉法可用來準(zhǔn)確測(cè)定小的線性尺寸，這一部分將在以下
幾節(jié)敘述。使用干涉法時(shí)，需要的工具是單色光源(一種顏色或
波長)。
單色光源的種類很多，利用一塊或幾塊組合起來的光學(xué)濾色
鏡，可以分離出近似于單一波長光線的窄譜帶。也可采用一個(gè)棱
鏡將白光“分解’’為它的組成光，并給合用一個(gè)射出狹縫，以分
離出一個(gè)所希望的波長的光。然而上述兩種方法效率都很低。大
多數(shù)實(shí)用光源是采用電激勵(lì)某種化學(xué)元素的原子，以發(fā)射出某種
特定波長的光。
一個(gè)光學(xué)平晶和單色光源可用來將未知尺寸和塊規(guī)進(jìn)行比
較。也就是說，它們配合使用可作為一種尺寸比較儀，還可用來
測(cè)量平面度的變化和確定近似平面的輪廓，有關(guān)這方面應(yīng)用的原
理如下：
光波用于測(cè)量是利用光干涉的原理。事實(shí)上，由單一光源發(fā)
射出的光波，其強(qiáng)度可以使之增強(qiáng)或減弱。光強(qiáng)的增強(qiáng)或減弱決
定予光的相位關(guān)系。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/7138.html
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