點(diǎn)擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報(bào)價(jià)--丨--

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正文:
目前的大多數(shù)實(shí)驗(yàn)都是用熔融金屬做的,但是為了進(jìn)行研究
所需可控制的清潔表面和這種特殊形狀的樣品已能夠抽出,并滿
足了要求,利用場(chǎng)發(fā)射
顯微鏡和場(chǎng)離子顯微鏡實(shí)驗(yàn),人們可以最
大限度地得到有關(guān)被測(cè)表面原子結(jié)構(gòu)的信息,由于施加了電場(chǎng),
所以還能夠保持盡可能清潔的表面,在充分發(fā)揮場(chǎng)離子顯微鏡的
能力時(shí),可以觀察到單個(gè)原子的位置。
這種方法的一個(gè)改型,稱這原子探針,利用原子探針可以使表
面成象,可以選擇一種特定的感興趣的原子,可以施加一個(gè)足以
剝離這個(gè)原子的很強(qiáng)的電場(chǎng)脈沖,然后用飛行時(shí)間質(zhì)譜計(jì)來(lái)判明
該原子的質(zhì)量,隨著研究的深入,對(duì)這種方法的機(jī)理認(rèn)識(shí)越來(lái)越
清楚,因此現(xiàn)在利用其它類型材料作樣品尖端的可能性已經(jīng)大大
地增加了,精心的實(shí)驗(yàn)不僅能夠提供關(guān)于基質(zhì)表面的詳細(xì)情況,
還能監(jiān)測(cè)氣體的吸附和表面遷移等。
雖然這些方法對(duì)表面分析有很大價(jià)值,但并沒有得到廣泛的應(yīng)
用,受到限制的原因是多方面的,其一,可研究的物質(zhì)種類受到
限制;其二,必須考慮到從非常特殊的、具有極小尖端的樣品上
得到的信息推廣到大而較平的結(jié)構(gòu)的行為時(shí)產(chǎn)生的問(wèn)題;其三,
所用的尖端要特制,實(shí)驗(yàn)必須在精心控制和超高真空環(huán)境下進(jìn)行
,以便使研究的樣品不被迅速破壞,這就是說(shuō),雖然裝置很簡(jiǎn)單
,但必須用最好的超高真空方法,在場(chǎng)離子顯微鏡情況下要能得
到最佳結(jié)果,除要求最好超高真空技術(shù)以外,還必須達(dá)到液氫的
低溫。所得的結(jié)果肯定能對(duì)整個(gè)原子表面科學(xué)領(lǐng)域添有用的資料
出自http://www.bjsgyq.com/
北京顯微鏡百科
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