標(biāo)題：TEM顯微鏡是研究各種金屬表面微觀結(jié)構(gòu)的一種的工具
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2015-9-7 9:49:55
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正文:
透射電鏡(TEM)
透射電鏡屬于電子顯微鏡的一種，它的成像原理與光學(xué)金相
顯微鏡基本相同，只是由電子束代替可見光，由電磁透鏡代替光學(xué)
透鏡
用透射電鏡鑒別鍍層的組織時(shí)，由電子槍發(fā)射的電子，經(jīng)兩個(gè)
聚光鏡聚焦成一束很細(xì)的、亮度極高而發(fā)射度較小的電子束
由于鍍層金屬試樣表面對(duì)電子的反射能力較差，因此不能像
光學(xué)金相顯微鏡那樣采用反射成像。又由于電子束穿透金屬試樣
的能力不大，電不能直接用金相試樣作透射觀察，所以用透射電鏡
鑒別鍍層結(jié)構(gòu)時(shí)，需要采用專門的方法制備復(fù)型(如塑料一碳二級(jí)
復(fù)型、萃取復(fù)型等)或金屬薄膜等措施，使金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)顯露出來。
以確保電子顯微鏡的分辨率，提高鍍層微觀結(jié)構(gòu)的鑒別效果
透射電鏡的分辨率雖高，但它的視域較小。所以它是光學(xué)金
相顯微鏡的發(fā)展和補(bǔ)充，而不能看作其取代光學(xué)金相顯微鏡。為
了正確而有效地分析鍍層的組織和形貌，通常應(yīng)先以光學(xué)金相顯
微鏡進(jìn)行鑒別其全貌，然后再用透射電鏡作進(jìn)一步鑒定。
由于背射電子和吸收電子的作用，得到晶體結(jié)構(gòu)分析的信
號(hào)，能產(chǎn)牛電子通道效應(yīng)，加強(qiáng)了鍍層結(jié)構(gòu)鑒別的效果。掃描電鏡
的另一個(gè)功能是由于X射線光子和俄歇電子的能量可直接表征
元素的特性，所以可用來作為鍍層金屬成分分析的信號(hào)，借以鑒別
鍍層的成分有可靠的依據(jù)。
場致離子顯微鏡
場致離子顯微鏡是研究各種金屬表面微觀結(jié)構(gòu)的一種新的工
具。同時(shí)也可通過表面分析研究金屬的晶界結(jié)構(gòu)和相變等等。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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