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正文:
,斷口表面的外觀會隨著位置的變化而不同。也許還不能對圖
像中的某些細節(jié)作出解釋,但很明顯的一點是,在這個放大倍數(shù)下
,斷口表面的不同部分看起來完全不一樣。附錄中將就這一點作進
一步的詳細分析,在斷口表面的同一部位,利用不同放大倍數(shù)進行
觀察時,看上去也會顯得完全不同。這兩張圖像拍攝時所使用的顯
微技術(shù)不同,使得對兩張圖片進行準確比較更加困難。一張高放大
倍數(shù)的圖像,所顯示的范圍小于30微米,顯示的內(nèi)容是透射電鏡(t
ransmission electron microscope,TEM)觀察到的斷口表面上位
于陰影下的碳復(fù)型(carbon replica)。有關(guān)透射電鏡技術(shù)將在需要
注意的是,在利用分形幾何(本章稍后將對此進行討論)對斷口表面
進行描述時,這一點尤其重要。這涉及斷口形貌圖集的使用,在不
同放大倍數(shù)下或觀察的是斷口表面的不同部位時,圖像會產(chǎn)生很大
差異,因此,在使用斷口形貌圖集時尤其要注意這個問題,特別是
當圖片上沒有標明測試條件及斷口的整體幾何形狀時。
出自http://www.bjsgyq.com/
北京顯微鏡百科
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