標(biāo)題：立式光學(xué)計(jì)用量塊調(diào)零時(shí)是平面與平面接觸
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2016-7-6 22:23:07
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正文:
立式光學(xué)計(jì)用量塊調(diào)零時(shí)是平面與平面接觸
測(cè)力的影響
立式光學(xué)計(jì)用量塊調(diào)零時(shí)是平面與平面接觸。測(cè)量軸徑時(shí)是圓柱
面與平面接觸。接觸情況有差異，固測(cè)力引起的變形不同而會(huì)帶來
測(cè)量誤差。但由予立式光學(xué)計(jì)測(cè)力為2N。根據(jù)公式計(jì)算，帶來的誤
差很小，可以忽略。 從上面的分析可看出，其主要誤差為量塊的
誤差和溫度引起的誤差。因此，選用高等級(jí)的量塊和控制測(cè)量溫度
，就可提高測(cè)量準(zhǔn)確度。
應(yīng)該指出，在上面的誤差分析中，沒有考慮因工件重量使工作
臺(tái)變形而帶來的測(cè)量誤差。根據(jù)有關(guān)資料，當(dāng)工件重量為3kg時(shí)，
工作臺(tái)的變形可達(dá)0．5μm。因此，對(duì)于較重的工件，一般不在立
式光學(xué)計(jì)上測(cè)量，如改在臥式光學(xué)計(jì)或測(cè)長儀上測(cè)量。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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