標(biāo)題：夾雜物應(yīng)用磁檢測與x射線衍射檢測尺寸較小缺陷
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2016-8-26 1:59:58
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正文:
夾雜物應(yīng)用磁檢測與x射線衍射檢測尺寸較小缺陷
傳統(tǒng)上的探測頻率較低，一般低于10 MHz，因而它就無法檢測
出尺寸較小的缺陷，例如尺寸為50～100微米的缺陷就無法探測到
。隨著高頻超聲波探測技術(shù)的發(fā)展，探測頻率為30～100 MHz的探
頭逐漸得到應(yīng)用，因而尺寸小于100微米的缺陷也能被檢測到。然
而隨著頻率的提高，雖然可探測到較小的缺陷，但是探測深度同時(shí)
也大大減小。因而這種方法的不足之處是檢測越精確，能檢測的范
圍就越小，同時(shí)其探測的結(jié)果受表面質(zhì)量及構(gòu)件的均勻性影響很大
(2)磁性檢測法。這種方法主要用于冷軋厚板、熱軋帶的內(nèi)部
探傷。其原理是當(dāng)在鐵磁體材料近表面處出現(xiàn)不連續(xù)，如
有夾雜物或缺陷，那么就會(huì)產(chǎn)生一個(gè)漏磁通量。這種方法的不足之
處是只對(duì)延展性夾雜物敏感，同時(shí)當(dāng)延展性夾雜物的延展超過某一
定值時(shí)，對(duì)磁場的影響又很小。此外，太小的夾雜物不容易被檢測
到
(3)x射線衍射檢測法。這種方法只是把夾雜物的圖像放大接收
，通�？梢苑糯�5～10倍。它的不足之處是很難區(qū)分孔洞和夾雜物
。另外，檢測工作量大，費(fèi)用高也是其不足之處。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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