標(biāo)題：自適應(yīng)工具的應(yīng)用-光學(xué)儀器自適應(yīng)分析技術(shù)
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2017-10-20 1:09:03
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正文:
自適應(yīng)工具的應(yīng)用-光學(xué)儀器自適應(yīng)分析技術(shù)
在應(yīng)力拋光過程中，還有很重要的一點(diǎn)就是要考慮鏡坯被驅(qū)動(dòng)
時(shí)產(chǎn)生的應(yīng)力。因而需要對(duì)作動(dòng)器施加限制，在把初始成型的鏡坯
加工到規(guī)定的最佳球面的情況下，這些需求經(jīng)常成為設(shè)計(jì)的驅(qū)動(dòng)因
素。然而，在使用了一個(gè)最佳球面鏡坯后，如果預(yù)測(cè)到的應(yīng)力水平
仍舊很高的話，就需要使用自適應(yīng)控制模擬來確定合理的行程或者
力的范圍。在應(yīng)力拋光循環(huán)過程中，為保證能夠收斂到理想面形，
調(diào)整這些作動(dòng)范圍需要進(jìn)行更頻繁的表面測(cè)量。
自適應(yīng)工具的推廣應(yīng)用
自適應(yīng)分析技術(shù)，就是通過求解一系列影響函數(shù)的線性標(biāo)量因
子，以保證得到一個(gè)最小的表面RMS誤差。需要修正的擾動(dòng)以及用
來修正它們的影n向函數(shù)，都可以來自有限元分析的預(yù)測(cè)結(jié)果、測(cè)
試數(shù)據(jù)(如二F涉測(cè)試陣列)、指定的多項(xiàng)式以及其他來源，或者這
些來源的任意組合。通過對(duì)擾動(dòng)和影響函數(shù)賦予不同的定義，許多
非自適應(yīng)的問題也可以用自適應(yīng)分析來求解。這些應(yīng)用中大多數(shù)情
況都需要把未知行為和測(cè)量的試驗(yàn)數(shù)據(jù)相互關(guān)聯(lián)。
在傳統(tǒng)的設(shè)計(jì)研發(fā)過程中，工程師需要進(jìn)行參數(shù)化設(shè)計(jì)研究，
通過試驗(yàn)設(shè)計(jì)的反復(fù)迭代直至找到一個(gè)滿意的或者可行的設(shè)計(jì)。這
是一個(gè)基于設(shè)計(jì)師直覺和洞察力的試錯(cuò)方法。在設(shè)計(jì)變量比較多的
情況下，這個(gè)過程會(huì)變得非常復(fù)雜和耗費(fèi)時(shí)間。正是由于這個(gè)原因
，基于手工設(shè)計(jì)研究的過程，通常很難充分發(fā)揮可用設(shè)計(jì)變量的最
大優(yōu)勢(shì)，并且經(jīng)常會(huì)導(dǎo)致非最優(yōu)的和表現(xiàn)不佳的設(shè)計(jì)。
優(yōu)化理論為改進(jìn)設(shè)計(jì)過程提供了一個(gè)方法論，其中包括設(shè)計(jì)靈
敏度和非線性規(guī)劃(NLP)技術(shù)。把這些優(yōu)化方法融入通用的有限元
程序中，就能為改進(jìn)設(shè)計(jì)提供新的機(jī)會(huì)。目前，大多數(shù)有限元分析
軟件中的A動(dòng)設(shè)計(jì)優(yōu)化功能，都可以從一個(gè)初始設(shè)計(jì)開始，經(jīng)過連
續(xù)地改進(jìn)以得到一個(gè)最優(yōu)設(shè)計(jì)。另外，最優(yōu)設(shè)計(jì)通常還會(huì)受到初始
設(shè)計(jì)和變量選擇的限制。并且，由于NLP的序列特點(diǎn)，最優(yōu)設(shè)計(jì)可
能只是一個(gè)局部最優(yōu)，而不是全局最優(yōu)。即使有這些不足之處，對(duì)
于經(jīng)驗(yàn)豐富的用戶，這種設(shè)計(jì)優(yōu)化仍然是一個(gè)非常強(qiáng)有力的工具。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/10421.html
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