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正文:

自動雙折射顯微鏡原理

1、測試原理：

利用光的偏振特性對晶體、纖維等有雙折射的物質進行觀察研究的儀器。其成像
原理與一般顯微鏡相似，不同之處在于光路中加入兩組偏振器（起偏器和檢偏器）。
由光源發(fā)出的自然光經(jīng)起偏器變成線偏振光后，照射到高分子晶體樣品，由于晶體的
雙折射現(xiàn)象，這束光被分解成為振動方向相互垂直的兩束線偏振光。這兩束偏振光不
能完全通過檢偏器，只有其中平行檢偏器方向的分量才能通過。通過檢偏器的這兩束
光的分量具有相同的振動方向與頻率而產生干涉效應· 由干涉色的級序可以測定晶體薄
片的厚度和雙折率等參數(shù)。

2、 操作說明：
1 ．開機→ mo le
2 ．選擇Retardation
3 ．裝上偏光鏡頭（二個）
4 ．調整偏光角度到OO ← → 0。 （下面）
5 ．選譯referance → yes
6 ．調整鏡頭距離，使monitor 值達MAX
7 ．選譯0.K .
8 ．調整偏光角度到0�！� → 90 "
9 ．放上sample 并使呈45。
10 ．調整焦距，并使sample 保持中央小框內
11 ．選擇measure → O.K. → 結果
12 ．取不同點平均
13 ．到 File → Print

注意事項：

3、

IF no data，Maybe :
(1）光線
(2) sample 未置鏡頭內中央
(3) sample 未呈45。
(4）調整敏感度
(5）調整焦距