標(biāo)題：熒光光譜實(shí)驗(yàn)裝置簡介-金屬微觀測量金相顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2013-11-3 0:11:02
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顯微光激發(fā)熒光光譜實(shí)驗(yàn)裝置
由 SEM 上面可以看到我們的 GaAs 多面體結(jié)構(gòu)尺度皆在納米層
級，所以為了量測這個(gè)結(jié)構(gòu)及量子點(diǎn)的發(fā)光，我們必須使用顯微光激
發(fā)熒光(micro-photoluminescence，簡稱μ-PL)光譜來做量測，本實(shí)驗(yàn)
之光譜量測是在低溫下(約 5~8K)進(jìn)行，實(shí)驗(yàn)裝置圖如圖 3.6，我們利
用氦氖激光將激光光經(jīng)由 50 倍物鏡聚焦到樣品表面，而經(jīng)過聚焦過
的激光光點(diǎn)可達(dá) 1μm，由于樣品中的電子會(huì)從價(jià)電帶被激發(fā)到傳導(dǎo)
帶，而傳導(dǎo)帶的電子會(huì)與價(jià)電帶的電洞再結(jié)合(recombination)發(fā)出熒
光，熒光經(jīng)由光譜儀(monochromator)分光后被硅探測器(Si detector)
所接收，并將光訊號轉(zhuǎn)為電訊號，最后由電腦轉(zhuǎn)換為我們所看到的熒
光光譜圖。
影像監(jiān)控系統(tǒng)，由監(jiān)視器(monitor)、白光燈
源(lamp)、電荷耦合探測器(CCD)、分光鏡(beam splitter)所組成，因
為我們的樣品上面有許多大小不同的元件，所以為了使激光光打在我
們想要的位置上，需要一個(gè)能同時(shí)觀察到激光光及樣品表面的系統(tǒng)，
圖中的分光鏡為可移動(dòng)式，當(dāng)我們想觀察激光光與樣品表面的位置
時(shí)，可把分光鏡移下來，則激光光與白光燈源打到樣品表面的反射光
會(huì)經(jīng)由 CCD 成像在監(jiān)視器上，而我們可以利用電腦控制步進(jìn)馬達(dá)來
微調(diào)樣品的左右位置及焦距，當(dāng)要量測熒光光譜時(shí)，在把分光鏡移上
去即可。
顯微光激發(fā)熒光光譜實(shí)驗(yàn)所需裝置配件如下：
1. 激光光源：氦氖激光，波長 632.8nm。
2. 分光鏡：部分穿透與部分反射的鏡片。
3. 物鏡：50 倍物鏡。
4. 液態(tài)氦冷卻平臺(tái)(cryostat)：降低溫及樣品置放位置。
5. 光譜儀：選定特定波長的光。
6. 硅探測器：適用范圍 1.1eV ~ 3eV
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/4859.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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