標(biāo)題：透射電鏡觀察研究樣品顯微顆粒結(jié)構(gòu)特征
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2013-12-5 22:47:42
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正文:
透射電鏡觀察研究樣品顯微結(jié)構(gòu)特征
根據(jù)樣品觀察的不同要求，可以選用透射電子顯微鏡或掃描
電子顯微鏡和電子探針等。
如果用透射電鏡觀察研究粉末樣品時，從顯微結(jié)構(gòu)特征
上可以清楚找到單顆粒品體和團聚體的形貌和尺寸.對于復(fù)型法來講，
則必須注意控制樣品拋光面上的腐蝕深度.腐蝕過淺或過深，
對觀察都將產(chǎn)生不利的影響，使有些顯微結(jié)構(gòu)上的細節(jié)顯露不清，
甚至可能被蝕去或在觀察時被忽略掉
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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