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標題：偏光顯微鏡有多種使用方法也可以用測量折射率

信息分類:站內新聞　　 作者:yiyi發(fā)布　　 時間:2014-1-31 1:58:18 將本頁加入收藏

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正文:

偏光顯微鏡有多種使用方法也可以用測量折射率

    偏光顯微鏡可有多種使用方法，有直光鏡下的觀察(和攝影)、

錐光鏡下的觀察(和攝影)、測量。

    所謂直光鏡或直光觀察(orthoseope，orthoseopic ob-servation)

就是用平行光照明時的偏光顯微鏡，實際上就是不用拉索透鏡時的偏光顯微鏡。

通常是在上下偏光鏡處于正交位時使用。

當標本是均質時視場完全黑暗。當標本中有雙折射結構時，

有雙折射結構之處變?yōu)槊髁粒?/div>

其余部分仍是黑暗。如果雙折射結構的光軸墓本與標本的表面平行，

則當旋轉載物臺時，可看到旋轉消光現(xiàn)象。

所以從正交偏光鏡下是否明亮可以判斷標本中雙折射結構之有無。

出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科

特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/5198.html 　
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