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標(biāo)題：測量覆層厚度試樣制備金相分析圖像顯微鏡

信息分類:站內(nèi)新聞　　 作者:yiyi發(fā)布　　 時(shí)間:2016-5-7 20:36:02 將本頁加入收藏

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正文:

測量覆層厚度試樣制備金相分析圖像顯微鏡

利用雙光束干涉顯微鏡測量不透明覆層厚度

    測量不透明覆層厚度時(shí)必須采用破壞的方法，為此在測量之

前要進(jìn)行試樣的制備。

    試樣制備是將待測件被測處的覆層去掉一部分，露出基體和

形成臺(tái)階．對于某些覆層可選用適當(dāng)?shù)耐四ひ和说粢徊糠�，而�?/div>

退掉的覆層可用一圈膠帶粘貼上而加以保護(hù)。

為了得到多光束干涉條紋，一般應(yīng)滿足下列條件：

    (1)干涉面應(yīng)噴涂一層高反射系數(shù)的薄膜，而且膜的吸收

系數(shù)很�。�  

    (2)薄膜噴涂層如銀或鋁的厚度應(yīng)十分均勻；

    (3)采用單色光源；

    (4)兩反射面間的距離越小越好，最好只是單色光源波長

的幾倍；

    (5)入射光波應(yīng)為一平行光束；

    (6)入射光束應(yīng)盡可能垂直于試樣表面．

線性偏振光以一定角度照射有覆層的零件表面，在光通過覆

層表面以及覆層與基體界面會(huì)產(chǎn)生反射，并將產(chǎn)生橢圓偏振光。

根據(jù)偏振光的種類和偏振程度，通過計(jì)算可確定覆層厚度。

    偏振光法測量覆層厚度通常是在由起偏器、補(bǔ)償器、檢偏器

等偏振元件制成的偏振光顯微鏡上進(jìn)行。偏振光顯微鏡是利用尼

科爾棱鏡來產(chǎn)生偏振光，稱之為起偏振片或起偏器。在起偏器的

后面插入一個(gè)同樣的起偏振片，它用來檢定起偏器所形成的偏振

光，稱之為檢偏器或分析器。

出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科

特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/8368.html 　
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