標(biāo)題：TEM顯微鏡拍攝照片利用影像分析計(jì)算軟硬質(zhì)相尺寸大小
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2013-2-16 8:33:17
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點(diǎn)擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報(bào)價(jià)--丨--
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正文:
TEM顯微鏡拍攝的照片利用影像分析計(jì)算軟硬質(zhì)相尺寸大小
影像分析儀處理
將 TEM 得到的照片利用影像分析來計(jì)算軟硬質(zhì)相 domain 尺寸大
小，由于形態(tài)太過複雜，對于 domain 較小的條狀硬質(zhì)相，其平均長
度與寬度都是以隨機(jī)的方式在圖上任取 50 點(diǎn)，再加以平均以期望能
夠得到最準(zhǔn)確的大小，然而對于 domain 較大的圓柱狀硬質(zhì)相，其寬
度亦是任取 50 點(diǎn)，再加以平均，但因?yàn)槠溟L度并不呈一趨勢分布，
故取了 50 點(diǎn)后，以其中最長的 5 點(diǎn)加以平均，期望能夠界定出最長
的長度以供討論，故不加以將 50 點(diǎn)平均。而在硬質(zhì)相形成連續(xù)相時(shí)，
長度無法測量，只能針對寬度加以比較，亦是取 50 點(diǎn)加以平均
在 TEM 中觀察 PU 的形態(tài)時(shí)，必須相當(dāng)小心，因?yàn)樵谝欢c(diǎn)隨著
觀察時(shí)間的增加會使得形態(tài)產(chǎn)生變化�？梢园l(fā)現(xiàn)
同一區(qū)隨著 TEM 電子束照射時(shí)間的增加，圖中黑色的點(diǎn)會逐漸聚集而
似乎變得更清楚，使得形態(tài)有所改變(65)。為何會有這種情形發(fā)生，這
是因?yàn)檩椛鋼p傷(radiation damage)所造成的。在 TEM﹙穿透式電子
顯微鏡﹚中，利用電子束穿透試片以進(jìn)行觀察，然而此電子束卻會對
試片造成輻射傷害，因?yàn)槌掷m(xù)照射電子束，在有機(jī)物中會使得分子鏈
斷裂，使得原始形態(tài)會發(fā)生變化。在圖 4-2abc 中，可以發(fā)現(xiàn)隨著電
子束照射時(shí)間的增長，會有黑色的點(diǎn)逐漸聚集，認(rèn)為應(yīng)該是分子鏈斷
裂后 Os 的聚集所引起的，因此在照 TEM 圖時(shí)，要注意輻射損傷的影
響，以免被誤導(dǎo)對形態(tài)變化的辨別
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/3957.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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